日本KETT LW-990膜厚計測試臺人工測量誤差減小，對測量管狀物很有效。

日本KETT LW-990膜厚計測試臺產品簡介：

LW-990是通過將膜厚計探針或厚度計的升降部的整體式膜厚計安裝于LW-990中，由于膜厚度測量儀的測里開始與測童對象接觸--恒定的力和角度，人工測量誤差減小，并且可以以高的重復精度測量來執(zhí)行。如要測量的管狀物，這是特別有效的。探針的膜厚計型，和支持雙式膜厚計的LZ-990相對應。

日本KETT LW-990膜厚計測試臺技術參數：

尺寸重量：150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg

對應傳感器：

探頭類型：LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J

機身整體式：LZ-990